金邦Computex09 创新技术与产品零距离全接触

　　Computex09台北国际电脑展是全球第二、亚洲最大的国际电脑展，是IT厂商展示新技术与新产品的最佳平台。作为拥有雄厚技术实力的一线内存厂商——GeIL金邦科技也参展了Computex09，那么金邦科技在这次展会上又为我们带来了什么新技术和新产品呢？ 

　　在金邦科技的展区内最抢眼的莫过于EVO Ⅲ全自动IC测试机和DBT高温老化炉的展示区了。 

参观者与EVO Ⅲ全自动IC测试机零距离接触

　　金邦科技将这两台价值不菲的设备带到了现场，所有参观者都可以与其进行零距离的接触，了解它们的工作原理和测试过程，以及它们对内存生产带来的重要意义。

　　金邦EVO Ⅲ全自动IC测试机零距离接触 

金邦EVO Ⅲ全自动IC测试机内部构造

　　透过EVO Ⅲ全自动IC测试机的观察窗，我们可以清晰的看到IC测试的全部过程。无人值守的全自动程序化操作，不但大大提升了检测的精度，同时也减少了人工的投入。 

　　金邦DBT高温老化炉零距离接触

1000支黑龙内存进行DBT测试的壮观景象

　　GeIL金邦研发的DBT高温老化炉，客制化的controller母板上一次可容纳多达1000支的内存同时进行高温老化测试，捡选出最精良的模块。通过DBT老化炉的观察窗可以看到1000支黑龙内存进行DBT测试的壮观景象。DBT有着极高的测试弹性，其可测试的最高温度为100摄氏度，最长时间可达24小时，此特性提供了DBT可完全依产品或客户需求而量身订做测试的可能。

　　金邦科技的产品展示区同样受到了参观者的关注，不少参观者都在驻足于产品展示台前，认真的了解金邦产品的特点与性能。